Studenții FET-UTM au vizitat laboratoarele IFA: o incursiune în lumea fascinantă a cercetării științifice

Pe 17 mai 2024, studenții anului II ai Facultății Electronică și Telecomunicații, Universitatea Tehnică a Moldovei (FET-UTM) au avut ocazia de a explora laboratoarele de cercetare științifică de ultimă generație ale Institutului de Fizică Aplicată (IFA). Vizita a reprezentat o incursiune fascinantă în domeniul cercetării științifice, oferindu-le studenților o perspectivă aprofundată asupra metodelor și tehnologiilor moderne utilizate pentru a descoperi tainele lumii materiale.

Studenții au fost întâmpinați cordial de către directorul IFA, dr., conf. cerc. Olga ȘIKIMAKA, care i-a felicitat pentru interesul manifestat față de domeniul fizicii aplicate. Ulterior, cadrele didactice și de cercetare ale IFA, dr. conf. univ. Andrian PRISĂCARU și dr. conf. univ. Constantin PÎRȚAC, le-au prezentând studenților o serie de instalații moderne utilizate în procesul de cercetare:

• Nanotester PMT3-NI-02 – un instrument avansat care permite studierea detaliată a proprietăților mecanice ale materialelor, precum duritatea, modulul Young, rigiditatea, limita de curgere, energia deformației plastice și elastice. Cu ajutorul acestui nanotester, studenții pot obține informații valoroase despre comportamentul materialelor sub stres mecanic, contribuind la dezvoltarea de materiale noi cu performanțe îmbunătățite.
• Microscopul de forță atomică (AFM – atomic force microscopy) – Park XE7 în configurația disponibilă (modul de bază) este destinat studiului topografiei, structurii și a proprietăților nanomecanice ale suprafețelor la scară nanometrică. AFM se bazează pe scanarea suprafeței cu o sondă foarte ascuțită (raza de curbură la vârf de aprx 20 nm) atașat la capătul liber al consolei (”cantilever”), ce permite vârfului să fie atras sau respins de suprfață datorită forțelor de interacțiune interatomică. În rezultat se obțin date, în baza cărora este construită topografia 3D a suprafeței cu rezoluția nano și sunt detectate o gamă largă de alte proprietăți ale suprafeței,
  inclusiv adeziunea, elasticitatea, coeficientul de frecare și altele.
• Sistem de microscopie electronică cu baleiaj (SEM) TESCAN VEGA – microscopul electronic cu baleiaj este un instrument indispensabil în cercetările stiintifice moderne. Este folosit la studierea suprafețelor diferitor materiale organice, neorganice, semiconductoare sau metalice. În particular, este foarte util la analiza morfologică pentru studierea proprietăților chimice, fizice
  și mecanice ale materialelor. Analizele morfologice sunt efectuate cu detectori pentru semnalele SE (secondary electrons) și BSE (back-scattered electrons). Concomitent cu obținerea imaginii cu ajutorul unui analizator de raze X incorporat este posibilă determinarea compoziției elementale a suprafeței probei (EDX). Microscopul este echipat și cu un dispozitiv suplimentar pentru litografie cu electroni EBL (electron beam lithography), ce poate genera rețele, forme geometrice, imagini tip bitmap, text, markere de aliniere etc.

Vizita la laboratoarele IFA a trezit un interes considerabil din partea studenților, oferindu-le o perspectivă practică asupra modului în care se realizează cercetarea științifică de vârf. Studenții au apreciat oportunitatea de a interacționa cu cadrele didactice și de cercetare ale IFA, de a pune întrebări și de a primi explicații detaliate cu privire la principiile de funcționare și aplicațiile instalațiilor prezentate.

Fără îndoială, această vizită a contribuit semnificativ la stimularea interesului studenților pentru domeniul fizicii aplicate și i-a motivat să exploreze în continuare tainele fascinante ale lumii materiale. Experiența acumulată la IFA va reprezenta un atu important în formarea lor ca viitori specialiști în domeniul electronicii și telecomunicațiilor.